États-Unis

€
EPFL Press EPFL Press EPFL Press EPFL Press

Nous contacter
info@epflpress.org

Caractérisation microstructurale des matériaux - Claude Esnouf - EPFL Press

Caractérisation microstructurale des matériaux

Analyse par les rayonnements X et électronique

de Claude Esnouf (auteur)
Collection : METIS Lyon Tech
août 2011
114,45 € 71,94 €
format 160 x 240 600 pages Indisponible
65,40 €
600 pages Téléchargement après achat
49,05 €

Medias

Claude Esnouf

Présentation

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.

Sommaire

  • Avant-propos
  • Introduction
  • Eléments de cristallographie
  • Diffraction par les cristaux
  • Radiocristallographie X
  • Diffraction par les rayonnements corpusculaires
  • Imagerie électronique
  • Spectroscopies x et électronique
  • Réseaux et groupes à deux dimensions
  • Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
  • Coefficient de Debye-Waller
  • Rappels sur la structure électronique d'un atome
  • Optique diffractive: réseaux zonés et lentille de Fresnel
  • Facteur de forme et géométrie du cristal
  • Relation facteur de diffusion électronique et potentiel
  • Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa
  • Correcteurs d'aberrations
  • Compléments à l'imagerie de haute résolution
  • Règle d'or de fermi et sections efficaces de pertes
  • Exercices et leurs solutions liste des symboles
  • Liste des acronymes
  • Définitions et valeurs de quelques grandeurs physiques
  • Index

Avis

Pour évaluer et laisser un commentaire sur le produit, merci de vous connecter à votre compte.

Informations

Editeur : EPFL Press

Auteur(s) : Claude Esnouf

Collection : METIS Lyon Tech

Publication : 9 août 2011

Edition : 1ère édition

Support(s) : Livre papier, eBook [PDF]

Nombre de pages Livre papier : 600

Nombre de pages eBook [PDF] : 600

Format (en mm) Livre papier : 160 x 240

Taille(s) : 50,7 Mo (PDF)

Poids (en grammes) : 1180

Langue(s) : Français

EAN13 Livre papier : 9782880748845

EAN13 eBook [PDF] : 9782889142644

Dans la même collection
Ils ont aussi acheté
--:-- / --:--